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  • 錫膏測厚儀
    錫膏測厚儀

    SPI3D-AH錫膏測厚儀:錫膏印刷是SMT生產(chǎn)道工序,許多的質(zhì)量缺陷都與錫膏印刷質(zhì)量有關(guān)。監(jiān)測錫膏的厚度和 變化趨勢,不但是提高質(zhì)量降低返修成本的關(guān)鍵手段,而且是滿足ISO質(zhì)量體系對過程參數(shù)監(jiān)測記錄的要求,提高客戶對生產(chǎn)質(zhì)量信心的重要措施。

    更新時間:2024-04-09型號:SPI3D-AH訪問量:992
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數(shù)) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)(紫外至近紅外) 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)?,初學(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時間:2023-10-07型號:OPTM SERIES訪問量:1365
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  • 日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES
    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES

    日本Otsuka顯微分光膜厚儀OPTM SERIES 頭部集成了薄膜厚度測量所需功能 通過顯微光譜法測量高精度絕對反射率(多層膜厚度,光學(xué)常數(shù)) 1點1秒高速測量 顯微分光下廣范圍的光學(xué)系統(tǒng)(紫外至近紅外) 區(qū)域傳感器的安全機(jī)制 易于分析向?qū)В鯇W(xué)者也能夠進(jìn)行光學(xué)常數(shù)分析 獨立測量頭對應(yīng)各種inline客制化需求 支持各種自定義

    更新時間:2023-10-06型號:訪問量:998
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