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簡要描述:斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)內(nèi)部采用高性能部件,可獲得好的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*佳激發(fā),12位樣品自動交換器,預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
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品牌 | 其他品牌 | 行業(yè)專用類型 | 電子產(chǎn)品 |
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價格區(qū)間 | 面議 | 儀器種類 | 手持式/便攜式 |
應(yīng)用領(lǐng)域 | 電子,電氣 |
斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)
德國斯派克分析儀器公司開發(fā)出了一種極其成功的技術(shù),把偏振X射線應(yīng)用于熒光分析。正如現(xiàn)今在拍攝高質(zhì)量圖片時偏振濾光片是不可替代的工具一樣,這種的分析技術(shù)已成為實驗室測定主量、次量和痕量元素不可替代的手段。斯派克分析儀器公司不斷發(fā)展這一技術(shù),并推出了新一代的儀器—SPECTRO XEPOS臺式偏振X射線熒光光譜儀。
斯派克 X熒光光譜儀 XEPOS技術(shù)參數(shù)
SPECTRO XEPOS內(nèi)部采用高性能部件,可獲得好的靈敏度和準確性。采用偏振次級靶以確保*佳激發(fā),12位樣品自動交換器,預(yù)先安裝好的應(yīng)用軟件包和智能軟件模塊,使SPECTRO XEPOS成為真正的多功能元素分析儀。
SPECTRO XEPOS配有預(yù)先安裝好的應(yīng)用包,包括:在工廠預(yù)先校正好的各種硬件和分析方法。適合分析:土壤、污泥、油中添加劑、水泥、爐渣、耐火材料、電子元器件RoHS檢測等。
XEPOS型X射線熒光光譜儀可廣泛應(yīng)用于各種電子材料及塑料中鉛、鎘、(汞)等元素分析,檢出下限低,靈敏度高、穩(wěn)定性好,可應(yīng)對歐洲WEEE、RoHS指令。
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