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日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀

簡(jiǎn)要描述:ZSX Primus III next,日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀X射線管位于分析樣品上方,減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn),并且無需在進(jìn)行粉末樣品

  • 產(chǎn)品型號(hào):ZSX Primus III next
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2024-08-06
  • 訪  問  量:1128

詳細(xì)介紹

品牌Rigaku/理學(xué)行業(yè)專用類型有色金屬
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域化工,地礦,能源,冶金,汽車

X射線管位于分析樣品上方,減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn),并且無需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。
可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到最佳。


ZSX Primus III next

日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀特點(diǎn)
  • 實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析

  • 高精度定位樣品臺(tái)滿足合金分析高精度要求

  • 特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差

  • 樣品室可簡(jiǎn)單移出方便清潔

  • 操作界面簡(jiǎn)潔、自動(dòng)化程度高


Rigaku ZSX Primus III next

在各種樣品類型中快速定量測(cè)定從鈹(Be)到鈾(U)的主要和次要原子元素。

高于光學(xué)元件的管道,可靠性更高


ZSX Primus III next

具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù),再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。

高精度樣品定位

樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對(duì)于要求高精度的應(yīng)用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III next采用光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析,旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒


使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)


EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供最準(zhǔn)確,最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng),包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫和掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。


日本理學(xué)波長(zhǎng)色散型X射線熒光光譜儀特征

  • 元素從Be到U的分析

  • 管道上方的光學(xué)器件使污染問題最小化

  • 占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限

  • 高精度樣品定位

  • 特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差

  • 統(tǒng)計(jì)過程控制軟件工具(SPC)

  • 吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率



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