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日本理學(xué)波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀

簡(jiǎn)要描述:波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、金屬分析等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。它提供了一種快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的方法來(lái)確定樣品中各種元素的含量,幫助科學(xué)家和工程師進(jìn)行研究和質(zhì)量控制。

  • 產(chǎn)品型號(hào):ZSX Primus III+
  • 廠商性質(zhì):代理商
  • 更新時(shí)間:2023-10-07
  • 訪  問(wèn)  量:4118

詳細(xì)介紹

品牌其他品牌行業(yè)專用類型其它
價(jià)格區(qū)間面議儀器種類臺(tái)式/落地式
應(yīng)用領(lǐng)域環(huán)保,能源
  一、產(chǎn)品描述:
 
  X射線管位于分析樣品上方,zui大程du減少了真空室內(nèi)飄散粉末損壞光管的風(fēng)險(xiǎn),并且無(wú)需在進(jìn)行粉末樣品分析時(shí)使用粘合劑,使樣品制備更快捷簡(jiǎn)便。
 
  可在慢速和快速直接切換抽真空和卸真空速率,使粉末和金屬樣品的樣品處理量達(dá)到理想狀態(tài)。
 
  該光譜儀使用波長(zhǎng)色散技術(shù),通過(guò)將入射的X射線束通過(guò)晶體進(jìn)行衍射,使不同能量的X射線在探測(cè)器上形成不同位置的信號(hào)峰。這些信號(hào)峰對(duì)應(yīng)于不同元素的特定能級(jí)躍遷。通過(guò)測(cè)量這些信號(hào)峰的強(qiáng)度和位置,可以確定樣品中各種元素的含量。
 
  波長(zhǎng)色散X射線熒光光譜儀在材料科學(xué)、地質(zhì)學(xué)、環(huán)境監(jiān)測(cè)、金屬分析等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。它提供了一種快速、準(zhǔn)確、無(wú)損的方法來(lái)確定樣品中各種元素的含量,幫助科學(xué)家和工程師進(jìn)行研究和質(zhì)量控制。
 
二、特點(diǎn):
 
  1、實(shí)現(xiàn)粉末、固體樣品不同元素不同含量的高精度分析
 
  3、高精度定位樣品臺(tái)滿足合金分析高精度要求
 
  3、特殊光學(xué)系統(tǒng)減少樣品表面不平而引起的誤差
 
  4、樣品室可簡(jiǎn)單移出方便清潔
 
  5、操作界面簡(jiǎn)潔、自動(dòng)化程度高
 
  三、 產(chǎn)品性能
 
  Rigaku ZSX Primus III +以很少的標(biāo)準(zhǔn)在各種樣品類型中快速定量測(cè)定從氧氣(O)到鈾(U)的主要和次要原子元素。
 
  1、高于光學(xué)元件的管道,可靠性更高
 
  ZSX Primus III +具有創(chuàng)新的光學(xué)上述配置。由于樣品室的維護(hù),再也不用擔(dān)心被污染的光束路徑或停機(jī)時(shí)間。光學(xué)元件以上的幾何結(jié)構(gòu)消除了清潔問(wèn)題并延長(zhǎng)了使用時(shí)間。
 
  2、高精度樣品定位
 
  樣品的高精度定位確保樣品表面與X射線管之間的距離保持恒定。這對(duì)于要求高精度的應(yīng)用很重要,例如合金分析。ZSX Primus III +采用*的光學(xué)配置進(jìn)行高精度分析,旨在最大限度地減少樣品中非平坦表面引起的誤差,如熔融珠和壓制顆粒
 
  3、使用EZ-scan軟件的SQX基本參數(shù)
 
  EZ掃描允許用戶在未事先設(shè)置的情況下分析未知樣品。節(jié)省時(shí)間功能只需點(diǎn)擊幾下鼠標(biāo)并輸入樣品名稱。結(jié)合SQX基本參數(shù)軟件,它可以提供最準(zhǔn)確,最快速的XRF結(jié)果。SQX能夠自動(dòng)校正所有的矩陣效應(yīng),包括線重疊。SQX還可以校正光電子(光和超輕元素),不同氣氛,雜質(zhì)和不同樣品尺寸的二次激發(fā)效應(yīng)。使用匹配庫(kù)和完mei的掃描分析程序可以提高準(zhǔn)確度。
 
  四、特征:
 
  1、元素從O到U的分析
 
  2、管道上方的光學(xué)器件使污染問(wèn)題最小化
 
  3、占地面積小,使用的實(shí)驗(yàn)室空間有限
 
  4、高精度樣品定位
 
  5、特殊光學(xué)元件可減少曲面樣品表面造成的誤差
 
  6、統(tǒng)計(jì)過(guò)程控制軟件工具(SPC)
 
  7、吞吐量可以優(yōu)化疏散和真空泄漏率
 

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