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理學ZSX PrimusIII+波長色散WDXRF在MLCC中的應用

更新時間:2023-04-14      點擊次數(shù):778

ZSX PrimusIII+MLCC中的應用

在鈦酸鋇生產(chǎn)過程中,非常重要指標鋇鈦摩爾比,簡稱鋇鈦比。鋇鈦比直接影響鈦酸鋇的四方度,進而影響鈦酸鋇的介電常數(shù)和絕緣電阻。對于高質量的鈦酸鋇粉體,鋇鈦比的控制精度要求高,一般控制精度要求小于0.001。通常用化學滴定法檢測出BaTiO3BaOTiO2的含量,就可計算Ba/Ti的摩爾比。但化學滴定法的精確程度只有0.002左右,且操作人員和環(huán)境對誤差的影響大,不能滿足鈦酸鋇Ba/Ti摩爾比的要求。可借助儀器設備(ICP-OES)精確測量BaTi的元素含量,再計算Ba/Ti摩爾比。ICP微量元素準確測試設備但需把樣品制備成液體,前處理需稀釋幾百上千倍,過程易帶來作誤差,且費時費力,不能滿足用戶時效性。

X射線熒光光譜分析技術擁有高精密度、高準確性、制樣簡單、可一次性報出所需目標元素結果,是解決以上難題的選擇,被越來越多的MLCC企業(yè)所采用。該方法的理論檢測精度達到0.0001-0.0003,滿足鈦酸鋇檢測的要求。

日本電子材料工業(yè)協(xié)會標準規(guī)格EMAS對鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比標準如下:

EMAS-4202

采用玻璃熔片法進行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線分析法

EMAS-4203

采用壓片法進行鈦酸鋇的Ba/Ti摩爾比的熒光X射線分析法

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EMAS行業(yè)標準制定中,共有15家鈦酸鋇生產(chǎn)廠家參與制定。其中,13家使用的是理學的設備對鈦酸鋇中Ba/Ti摩爾比檢測,其檢測精度都在千分之一以下,能滿足企業(yè)對高質量的鈦酸鋇粉體Ba/Ti摩爾比控制要求。

理學公司的X射線熒光光譜儀掃描道ZSX Primus III+對鈦酸鋇粉末質量管理,鈦鋇比標準偏差(摩爾比)~10-4。根據(jù)實測結果,ZSX Primus III+的精度在0.0002~0.0003。

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產(chǎn)品特點:

1、4KW大功率高頻X射線發(fā)生器;

2、采用30μm超薄鈹窗膜大幅度提高檢測靈敏度;

3、上照式方式確保粉末樣品測試的安全可靠性;

4、儀器內(nèi)部平行雙真空室提高分析穩(wěn)定性;

5、全中文定性、定量分析、維護管理軟件;

6、對未知樣品的無標樣分析—New SQX軟件。

分析實例

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